台湾量测仪器大厂致茂电子在2007年台北光电周(6月13-6月16)间，针对当今最热门的LED产业推出了系列的工艺测试解决方案。

致茂电子所开发的LED测试设备是应用于中游芯片切割前后及芯片扩张前后，针对芯片的电性、光学及静电放电(ESD)测试，并可结合点测机(LED Wafer/Chip Prober)的人性化操作介面，轻松快速地检测LED芯片及芯片。

针对下游的封装阶段，也可进行静电放电、热阻(Thermal Resistance)及温控(Tri-temperature)测试，以便仿真温度、湿度的环境变化，量测LED模组的电性及光学特性。

另外，在本次展览中，致茂还首度展出了LED目检机，可替代人工的检测专案，将破损或外观有问题的芯片直接挑出，大量降低了人工成本，达到了准确、快速的检测目的。同时，为了满足客户不同需求，致茂还提供各种客制化的LED电性、光学测试设备，降低了制造成本，提高了客户在同业的竞争力。